Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://rep.bsatu.by/handle/doc/14589| Название: | A low-temperature X-ray diffraction study of the Cu2ZnSnSe4 thin films |
| Другие названия: | Низкотемпературное рентгеноструктурное исследование тонких пленок Cu2ZnSnSe4 |
| Авторы: | Stanchik, Alena Viktorovna Chumak, V. A. Gremenok, Valery Feliksovich Baraishuk, Sergey Mikhailovich Станчик, Алена Викторовна Чумак, В. А. Гременок, Валерий Феликсович Барайшук, Сергей Михайлович |
| Ключевые слова: | electrochemical deposition flexible metal substrates thin films электрохимическое осаждение low-temperature X-ray studies гибкие металлические подложки тонкие плёнки низкотемпературные рентгеновские исследования |
| Дата публикации: | 2021 |
| Библиографическое описание: | A low-temperature X-ray diffraction study of the Cu2ZnSnSe4 thin films = Низкотемпературное рентгеноструктурное исследование тонких пленок Cu2ZnSnSe4 / A. V. Stanchik [и др.] // Mendeleev Communications. - 2021. - Vol. 31. - Issue 5. - P. 726-727. DOI:10.1016/j.mencom.2021.09.045 |
| Аннотация: | Low-temperature XRD measurements were performed to confirm the phase composition and structural parameters of the electrochemically deposited Cu2ZnSnSe4 thin films on flexible metal substrates. Для подтверждения фазового состава и структурных параметров электрохимических осажденных тонких пленок Cu2ZnSnSe4 на гибких металлических подложках были проведены низкотемпературные рентгенодифракционные измерения. |
| URI: | https://rep.bsatu.by/handle/doc/14589 |
| УДК: | 544 |
| Располагается в коллекциях: | 2021 |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| A-low-temperature-X-ray-diffraction-study-of-the-Cu2ZnSnSe4-thin-films.pdf | P. 726-727 | 793,44 kB | Adobe PDF |  Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.