ISSN 2522-4468

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://rep.bsatu.by/handle/doc/14589
Название: A low-temperature X-ray diffraction study of the Cu2ZnSnSe4 thin films = Низкотемпературное рентгеноструктурное исследование тонких пленок Cu2ZnSnSe4
Авторы: Stanchik, Alena Viktorovna
Chumak, V. A.
Gremenok, Valery Feliksovich
Baraishuk, Sergey Mikhailovich
Станчик, Алена Викторовна
Чумак, В. А.
Гременок, Валерий Феликсович
Барайшук, Сергей Михайлович
Ключевые слова: electrochemical deposition
flexible metal substrates
thin films
электрохимическое осаждение
low-temperature X-ray studies
гибкие металлические подложки
тонкие плёнки
низкотемпературные рентгеновские исследования
Дата публикации: 2021
Библиографическое описание: A low-temperature X-ray diffraction study of the Cu2ZnSnSe4 thin films / A. V. Stanchik [и др.] // Mendeleev Communications. - 2021. - Vol. 31. - Issue 5. - P. 726-727.
Аннотация: Low-temperature XRD measurements were performed to confirm the phase composition and structural parameters of the electrochemically deposited Cu2ZnSnSe4 thin films on flexible metal substrates. Для подтверждения фазового состава и структурных параметров электрохимических осажденных тонких пленок Cu2ZnSnSe4 на гибких металлических подложках были проведены низкотемпературные рентгенодифракционные измерения.
URI: https://rep.bsatu.by/handle/doc/14589
УДК: 544
Располагается в коллекциях:2021

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
A-low-temperature-X-ray-diffraction-study-of-the-Cu2ZnSnSe4-thin-films.pdfP. 726-727793,44 kBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.