ISSN 2522-4468

  1. Репозиторий БГАТУ!
  2. Материалы конференций, сборники научных трудов
  3. Материалы зарубежных конференций
  4. 2021
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://rep.bsatu.by/handle/doc/14589
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorStanchik, Alena Viktorovna-
dc.contributor.authorChumak, V. A.-
dc.contributor.authorGremenok, Valery Feliksovich-
dc.contributor.authorBaraishuk, Sergey Mikhailovich-
dc.contributor.authorСтанчик, Алена Викторовна-
dc.contributor.authorЧумак, В. А.-
dc.contributor.authorГременок, Валерий Феликсович-
dc.contributor.authorБарайшук, Сергей Михайлович-
dc.date.accessioned2022-01-20T13:32:33Z-
dc.date.available2022-01-20T13:32:33Z-
dc.date.issued2021-
dc.identifier.citationA low-temperature X-ray diffraction study of the Cu2ZnSnSe4 thin films = Низкотемпературное рентгеноструктурное исследование тонких пленок Cu2ZnSnSe4 / A. V. Stanchik [и др.] // Mendeleev Communications. - 2021. - Vol. 31. - Issue 5. - P. 726-727. DOI:10.1016/j.mencom.2021.09.045ru_RU
dc.identifier.urihttps://rep.bsatu.by/handle/doc/14589-
dc.description.abstractLow-temperature XRD measurements were performed to confirm the phase composition and structural parameters of the electrochemically deposited Cu2ZnSnSe4 thin films on flexible metal substrates. Для подтверждения фазового состава и структурных параметров электрохимических осажденных тонких пленок Cu2ZnSnSe4 на гибких металлических подложках были проведены низкотемпературные рентгенодифракционные измерения.ru_RU
dc.language.isoenru_RU
dc.subjectelectrochemical depositionru_RU
dc.subjectflexible metal substratesru_RU
dc.subjectthin filmsru_RU
dc.subjectэлектрохимическое осаждениеru_RU
dc.subjectlow-temperature X-ray studiesru_RU
dc.subjectгибкие металлические подложкиru_RU
dc.subjectтонкие плёнкиru_RU
dc.subjectнизкотемпературные рентгеновские исследованияru_RU
dc.titleA low-temperature X-ray diffraction study of the Cu2ZnSnSe4 thin filmsen
dc.title.alternativeНизкотемпературное рентгеноструктурное исследование тонких пленок Cu2ZnSnSe4ru_RU
dc.typeArticleru_RU
dc.identifier.udc544-
dc.relation.bookMendeleev Communicationsru_RU
dc.identifier.DOI10.1016/j.mencom.2021.09.045-
Располагается в коллекциях:2021

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
A-low-temperature-X-ray-diffraction-study-of-the-Cu2ZnSnSe4-thin-films.pdfP. 726-727793,44 kBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.