ISSN 2522-4468

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://rep.bsatu.by/handle/doc/12486
Название: Исследование влияния условий формирования на микроструктуру молибденовых тонкопленочных тыльных контактов, используемых для создания биосенсоров
Авторы: Барайшук, Сергей Михайлович
Туровец, Антон Иванович
Долгий, Валерий Казимирович
Ключевые слова: материалы для сенсоров
нанесение покрытий
качество покрытия
тыльный контакт
структура поверхности
атомно-силовая микроскопия
Дата публикации: 2020
Издательство: Эпоха Науки
Библиографическое описание: Барайшук, С. М. Исследование влияния условий формирования на микроструктуру молибденовых тонкопленочных тыльных контактов, используемых для создания биосенсоров = Study of the influence of formation conditions on the microstructure of molybdenum thin-film rear contacts used for the creation of biosensors / С. М. Барайшук, А. И. Туровец, В. К. Долгий // Эпоха Науки. - 2020. - N 23. - С. 181-186.
Аннотация: В работе приведены результаты изучения структуры Мо покрытия, осаждаемого в качестве тыльного контакта методом ионно-ассистированного нанесения покрытия в условиях облучения собственными ионами. Такая методика нанесения покрытий обеспечивает перемешивание атомов подложки и атомов покрытия, отсутствие примесей ассистирующих газов в покрытии, позволяет получить высокую адгезию между осажденной пленкой и материалом подложки, а также получать проводящие слои меньшим количеством дефектов. Данный метод влияет на: структуру, плотность упаковки, адгезию, шероховатость поверхности, получаемого покрытия, позволяя повысить качество сенсорных систем, сформированных на тонкопленочном покрытии. The paper presents the results of studying the structure of a Mo coating deposited as a back contact by the method of ion-assisted coating under conditions of irradiation with its own ions.
URI: https://rep.bsatu.by/handle/doc/12486
УДК: 538.911; 539.211
Располагается в коллекциях:Статьи из научных журналов



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.