Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://rep.bsatu.by/handle/doc/12081| Название: | Атомно-силовая микроскопия для изучения поверхности тонких пленок SnS, получаемых методом «горячей стенки» |
| Авторы: | Барайшук, Сергей Михайлович Башкиров, Семен Александрович |
| Ключевые слова: | атомно-силовая микроскопия тонкие пленки солнечные элементы сульфид олова SnS |
| Дата публикации: | 2014 |
| Издательство: | Беларуская навука |
| Библиографическое описание: | Барайшук, С. М. Атомно-силовая микроскопия для изучения поверхности тонких пленок SnS, получаемых методом «горячей стенки» / С. М. Барайшук, С. А. Башкиров // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов ХI Международной конференции, Минск, 21-24 октября 2014 г. - Минск : Беларуская навука, 2014. - С. 84-88. |
| Аннотация: | Сульфид олова SnS представляет интерес для оптоэлектроники и рассматривается как перспективный поглощающий материал для тонкопленочных солнечных элементов. В работе методом атомно-силовой микроскопии исследована поверхность пленок SnS, полученных методом «горячей стенки». Установлено влияние параметров режима получения пленок на структуру их поверхности. Определена средняя шероховатость поверхности. |
| URI: | https://rep.bsatu.by/handle/doc/12081 |
| УДК: | 538.911 |
| Располагается в коллекциях: | 2014 |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| atomno-silovaya-mikroskopiya-dlya-izucheniya-poverhnosti-tonkih-plenok-sns-poluchaemyh-metodom-goryachej-stenki.pdf | С. 84-88 | 801,17 kB | Adobe PDF |  Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.