Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://rep.bsatu.by/handle/doc/12081Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Барайшук, Сергей Михайлович | - |
| dc.contributor.author | Башкиров, Семен Александрович | - |
| dc.date.accessioned | 2021-02-22T12:51:27Z | - |
| dc.date.available | 2021-02-22T12:51:27Z | - |
| dc.date.issued | 2014 | - |
| dc.identifier.citation | Барайшук, С. М. Атомно-силовая микроскопия для изучения поверхности тонких пленок SnS, получаемых методом «горячей стенки» / С. М. Барайшук, С. А. Башкиров // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов ХI Международной конференции, Минск, 21-24 октября 2014 г. - Минск : Беларуская навука, 2014. - С. 84-88. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://rep.bsatu.by/handle/doc/12081 | - |
| dc.description.abstract | Сульфид олова SnS представляет интерес для оптоэлектроники и рассматривается как перспективный поглощающий материал для тонкопленочных солнечных элементов. В работе методом атомно-силовой микроскопии исследована поверхность пленок SnS, полученных методом «горячей стенки». Установлено влияние параметров режима получения пленок на структуру их поверхности. Определена средняя шероховатость поверхности. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Беларуская навука | ru_RU |
| dc.subject | атомно-силовая микроскопия | ru_RU |
| dc.subject | тонкие пленки | ru_RU |
| dc.subject | солнечные элементы | ru_RU |
| dc.subject | сульфид олова SnS | ru_RU |
| dc.title | Атомно-силовая микроскопия для изучения поверхности тонких пленок SnS, получаемых методом «горячей стенки» | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| dc.identifier.udc | 538.911 | - |
| dc.relation.book | Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов ХI Международной конференции, Минск, 21-24 октября 2014 г. | ru_RU |
| Располагается в коллекциях: | 2014 | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| atomno-silovaya-mikroskopiya-dlya-izucheniya-poverhnosti-tonkih-plenok-sns-poluchaemyh-metodom-goryachej-stenki.pdf | С. 84-88 | 801,17 kB | Adobe PDF |  Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.