ISSN 2522-4468

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://rep.bsatu.by/handle/doc/12074
Название: Применение метода атомно-силовой микроскопии для исследования морфологии поверхности тонких пленок, сформированных методом ионно-ассистированного осаждения
Авторы: Яковенко, Юлия Сергеевна
Барайшук, Сергей Михайлович
Ташлыкова-Бушкевич, Ия Игоревна
Ташлыков, Игорь Серафимович
Михалкович, Олег Михайлович
Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия
тонкие пленки
ионно-ассистированные осаждения
формирование пленок
Дата публикации: 2016
Издательство: Беларуская навука
Библиографическое описание: Применение метода атомно-силовой микроскопии для исследования морфологии поверхности тонких пленок, сформированных методом ионно-ассистированного осаждения / Ю. С. Яковенко [и др.] // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов ХII Международной конференции, Минск, 18-21 октября 2016 г. - Минск : Беларуская навука, 2016. - С. 94-98.
Аннотация: В работе представлены результаты исследования топографии поверхности тонких пленок состава Al – 1,0 ат.% Cr, Al – 1,5 ат.% Fe, сформированных ионно-ассистированным осаждением на стеклянных подложках. Получены данные по шероховатости исследованных поверхностей. Обсуждается процесс формирования пленок.
URI: https://rep.bsatu.by/handle/doc/12074
УДК: 544
Располагается в коллекциях:2016



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.