Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://rep.bsatu.by/handle/doc/12074Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Яковенко, Юлия Сергеевна | - |
| dc.contributor.author | Барайшук, Сергей Михайлович | - |
| dc.contributor.author | Ташлыкова-Бушкевич, Ия Игоревна | - |
| dc.contributor.author | Ташлыков, Игорь Серафимович | - |
| dc.contributor.author | Михалкович, Олег Михайлович | - |
| dc.date.accessioned | 2021-02-22T11:21:58Z | - |
| dc.date.available | 2021-02-22T11:21:58Z | - |
| dc.date.issued | 2016 | - |
| dc.identifier.citation | Применение метода атомно-силовой микроскопии для исследования морфологии поверхности тонких пленок, сформированных методом ионно-ассистированного осаждения / Ю. С. Яковенко [и др.] // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов ХII Международной конференции, Минск, 18-21 октября 2016 г. - Минск : Беларуская навука, 2016. - С. 94-98. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://rep.bsatu.by/handle/doc/12074 | - |
| dc.description.abstract | В работе представлены результаты исследования топографии поверхности тонких пленок состава Al – 1,0 ат.% Cr, Al – 1,5 ат.% Fe, сформированных ионно-ассистированным осаждением на стеклянных подложках. Получены данные по шероховатости исследованных поверхностей. Обсуждается процесс формирования пленок. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Беларуская навука | ru_RU |
| dc.subject | атомно-силовая микроскопия | ru_RU |
| dc.subject | тонкие пленки | ru_RU |
| dc.subject | ионно-ассистированные осаждения | ru_RU |
| dc.subject | формирование пленок | ru_RU |
| dc.title | Применение метода атомно-силовой микроскопии для исследования морфологии поверхности тонких пленок, сформированных методом ионно-ассистированного осаждения | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| dc.identifier.udc | 544 | - |
| dc.relation.book | Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов ХII Международной конференции, Минск, 18-21 октября 2016 г. | ru_RU |
| Располагается в коллекциях: | 2016 | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| primenenie-metoda-atomno-silovoj-mikroskopii-dlya-issledovaniya-morfologii-poverhnosti-tonkih-plenok-sformirovannyh-metodom-ionno-assistirovannogo-osazhdeniya.pdf | С. 94-98 | 763,28 kB | Adobe PDF |  Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.