Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://rep.bsatu.by/handle/doc/12060
Название: | A low-temperature X-ray diffraction study of the CU2ZNSNSE4 thin films on a mo foil substrate |
Авторы: | Stanchik, Alena Viktorovna Chumak, V. A. Gremenok, Valery Feliksovich Baraishuk, Sergey Mikhailovich Shoukavaya, T. V. Барайшук, Сергей Михайлович |
Ключевые слова: | тонкие пленки низкотемпературные исследования рентгеноструктурные исследования гибкие подложки CZTSe солнечная энергия нетрадиционные источники энергии возобновляемые источники энергии гелиоэнергетика flexible substrate stability thin film |
Дата публикации: | 2020 |
Издательство: | Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems |
Библиографическое описание: | A low-temperature X-ray diffraction study of the Cu2ZnSnSe4 thin films on a mo foil substrate = Низкотемпературное рентгеноструктурное исследование тонких пленок Cu2ZnSnSe4 на подложке из металлической фольги / A. V. Stanchik [и др.] // 37th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, 7-11 September 2020. - Freiburg : Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems, 2020. - P. 722-724. |
Аннотация: | The Zn-rich and Cu-poor Cu2ZnSnSe4 (CZTSe) thin films were produced on flexible Mo foil by the three-step process. The XRD analysis demonstrates that the film mainly consists of CZTSe tetragonal phase and can contained ZnSe secondary phase. In addition, there are reflections of Mo and MoSe2. It was found that the crystal structure of the CZTSe films deposited on a Mo foil substrate was stable at low temperatures. The lattice parameters a and c are linearly decreasing in rang 5.707–5.637 and 11.394–11.298 A, respectively, with a change in the temperature of the X-ray measurements from the 300 to 100 K. The thermal expansion coefficient is 9.87 ? 10–6 K–1. |
URI: | https://rep.bsatu.by/handle/doc/12060 |
УДК: | 544 |
Располагается в коллекциях: | 2020 |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
a-low-temperature-x-ray-diffraction-study-of-the-cu2znsnse4-thin-films-on-a-mo-foil-substrate.pdf | P. 722-724 | 440,68 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.