ISSN 2522-4468

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://rep.bsatu.by/handle/doc/14596
Название: Фазовый состав и микроструктура тонких пленок Cu2ZnSn(S,Se)4
Авторы: Станчик, Алена Викторовна
Барайшук, Сергей Михайлович
Жигулин, Д. В.
Петлицкий, А. Н.
Труханова, Е. Л.
Чумак, В. А.
Ключевые слова: прекурсор
тонкие пленки
микроструктура
параметры шероховатости
microstructure
roughness parameters
thin films
precursor
Дата публикации: 2021
Библиографическое описание: Фазовый состав и микроструктура тонких пленок Cu2ZnSn(S,Se)4 / А. В. Станчик [и др.] // Известия Гомельского государственного университета имени Ф. Скорины. - 2021. - N 3 (126). - С. 143-149.
Аннотация: Тонкие пленки Cu2ZnSn(SxSe1–x)4 (CZTSSe) получены путем селенизации послойно нанесенных прекурсоров Cu/Sn/ZnS магнетронным напылением на подложки Мо/стекло и из чистого стекла. С помощью рентгеноспектрального микроанализа, рентгенофазового анализа, сканирующей электронной и атомно-силовой микроскопии установлено влияние элементного состава прекурсоров и типа подложек на формирование пленок CZTSSe. Cu2ZnSn(SxSe1–x)4 (CZTSSe) thin films were obtained by selenization of layer-by-layer Cu/Sn/ZnS precursors by magnetron sputtering on Mo/glass and glass substrates. The influence of the elemental composition of precursors and the type of substrates on the formation of CZTSSe films was established using Xray spectral microanalysis, X-ray phase analysis, scanning electron and atomic forse microscopy.
URI: https://rep.bsatu.by/handle/doc/14596
УДК: 538.975
Располагается в коллекциях:Статьи из научных журналов

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Fazovyj-sostav-i-mikrostruktura-tonkih-plenok-Cu2ZnSn-S-Se-4.pdfС. 143-149952,52 kBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.