ISSN 2522-4468

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://rep.bsatu.by/handle/doc/12650
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorСтанчик, Алена Викторовна-
dc.contributor.authorЧумак, В. А.-
dc.contributor.authorГременок, Валерий Феликсович-
dc.contributor.authorШёлковая, Т. В.-
dc.contributor.authorБарайшук, Сергей Михайлович-
dc.date.accessioned2021-04-21T12:37:17Z-
dc.date.available2021-04-21T12:37:17Z-
dc.date.issued2020-
dc.identifier.citationНизкотемпературное исследование тонких пленок CZTSe / А. В. Станчик [и др.] // Современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур и наноматериалов : тезисы докладов XXVIII Российской конференции по электронной микроскопии, Черноголовка, 5–10 сентября 2020 г. В 3 т. - Черноголовка : ФНИЦ Кристаллография и фотоника РАН, 2020. - Т. 3. - С. 120–121.ru_RU
dc.identifier.urihttps://rep.bsatu.by/handle/doc/12650-
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherФНИЦ Кристаллография и фотоника РАНru_RU
dc.subjectтонкие пленкиru_RU
dc.subjectCZTSeru_RU
dc.subjectнизкотемпературные исследованияru_RU
dc.titleНизкотемпературное исследование тонких пленок CZTSeru_RU
dc.typeArticleru_RU
dc.identifier.udc539.216.2-
dc.relation.bookСовременные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур и наноматериалов : тезисы докладов XXVIII Российской конференции по электронной микроскопии, Черноголовка, 5–10 сентября 2020 г. В 3 т.ru_RU
Располагается в коллекциях:2020

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Nizkotemperaturnoe issledovanie tonkih plenok CZTSe.pdfС. 120–121409,61 kBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.