ISSN 2522-4468

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://rep.bsatu.by/handle/doc/12594
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorБарайшук, Сергей Михайлович-
dc.contributor.authorМихалкович, Олег Михайлович-
dc.contributor.authorТашлыков, Игорь Серафимович-
dc.date.accessioned2021-04-15T12:42:43Z-
dc.date.available2021-04-15T12:42:43Z-
dc.date.issued2013-
dc.identifier.citationБарайшук, С. М. Элементный состав и свойства поверхности тонких пленок металлов, нанесенных на подложки кремния / С. М. Барайшук, О. М. Михалкович, И. С. Ташлыков // Актуальные проблемы естественных наук и их преподавания : сборник научных статей Международной научно-практической конференции, Могилев, 20-22 февраля 2013 г. - Могилев : МГУ им. А. А. Кулешова, 2013. - С. 11-15.ru_RU
dc.identifier.urihttps://rep.bsatu.by/handle/doc/12594-
dc.description.abstractIn this paper a composite structure, topography and nanohardness of a surface (100) Si modified by means of ion-assisted deposition of coatings in conditions of a self-irradiation are discussed. Rutherford backscattering (RBS) of He+ ions and computer program RUMP were applied to investigate an composition of surface. It is established, that coating includes atoms of metal, hydrogen, carbon, oxygen, silicon. The nanoindentation data from coated systems were used for calculation of the hardness and elastic modulus using load and displacement sensing indentation experiments. Atomic Force Microscopy (AFM) surface observations were used to investigate the topography of modified surfaces. В данной работе обсуждаются составная структура, топография и нанотвердость поверхности (100) Si, модифицированной методом ионно-ассистированного нанесения покрытий в условиях самооблучения. Резерфордовское обратное рассеяние (RBS) ионов He + и компьютерная программа RUMP были применены для исследования состава поверхности. Установлено, что в состав покрытия входят атомы металла, водорода, углерода, кислорода, кремния. Данные наноиндентирования систем с покрытием использовались для расчета твердости и модуля упругости с использованием экспериментов по вдавливанию с измерением нагрузки и смещения. Наблюдения за поверхностью с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) использовались для исследования топографии модифицированных поверхностей.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherМГУ им. А. А. Кулешоваru_RU
dc.subjectтонкие металлические пленкиru_RU
dc.subjectнанотвердостьru_RU
dc.subjectэлементный составru_RU
dc.subjectтопографияru_RU
dc.titleЭлементный состав и свойства поверхности тонких пленок металлов, нанесенных на подложки кремнияru_RU
dc.typeArticleru_RU
dc.identifier.udc539.23.234-
dc.relation.bookАктуальные проблемы естественных наук и их преподавания : сборник научных статей Международной научно-практической конференции, Могилев, 20-22 февраля 2013 г.ru_RU
Располагается в коллекциях:Статьи из научных журналов

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Barajshuk, S. M. Elementnyj sostav i svojstva poverhnosti tonkih plenok metallov, nanesennyh na podlozhki kremniya.pdfС. 11-15527,2 kBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.