Морфология поверхности тонких пленок SnS, получаемых методом «горячей стенки»

Abstract

В работе методом атомно-силовой микроскопии с использованием оригинальной двухпроходной методики исследована поверхность пленок SnS, полученных методом «горячей стенки». Установлено влияние параметров режима получения пленок на структуру их поверхности. Определены значения средней шероховатости пленок. In the current paper the surface of the SnS thin films obtained by hot wall method was investigated by atomic force microscopy using the original two-pass method. The influence of the producing conditions on the film surface structure was found. The mean values of the film roughness were determined.