ISSN 2522-4468

Просмотр собрания по группе - Ключевые слова атомно-силовая микроскопия

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
или введите несколько первых букв:  
Результаты с 21 по 23 из 23 < назад 
Дата выпускаНазваниеАвтор(ы)
2006Топография и свойства поверхности изделий, модифицированных ионно-ассистированным осаждением покрытийБарайшук, Сергей Михайлович; Верес, О. Г.; Ташлыков, Игорь Серафимович
2017Топография поверхности прекурсоров Cu-Zn-Sn послойно электрохимически осажденных на подложки Мo/стекло и Мо-фольгаТуровец, Антон Иванович; Барайшук, Сергей Михайлович; Станчик, Алена Викторовна; Гременок, Валерий Феликсович; Башкиров, Семен Александрович; Turovets, Anton Ivanovich; Baraishuk, Sergey Mikhailovich; Stanchik, Alena Viktorovna; Gremenok, Valery Feliksovich; Bashkirov, Semyon Alexandrovich
2018Топография поверхности субмикронных пленок эвтектического композита GaSb-CrSbТуровец, Антон Иванович; Барайшук, Сергей Михайлович; Ткаченко, Тамара Михайловна; Рагимов, Рашад Низамеддин; Мамедов, И. Х.; Араслы, Д. Г.; Халилова, А. А.