ISSN 2522-4468

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://rep.bsatu.by/handle/doc/12083
Название: Топография поверхности субмикронных пленок эвтектического композита GaSb-CrSb
Авторы: Туровец, Антон Иванович
Барайшук, Сергей Михайлович
Ткаченко, Тамара Михайловна
Рагимов, Рашад Низамеддин
Мамедов, И. Х.
Араслы, Д. Г.
Халилова, А. А.
Ключевые слова: субмикронные пленки
эвтектика
эвтектические композиты
тонкие пленки
атомно-силовая микроскопия
Дата публикации: 2018
Издательство: Беларуская навука
Библиографическое описание: Топография поверхности субмикронных пленок эвтектического композита GaSb-CrSb / А. И. Туровец [и др.] // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов ХIII Международной конференции, Минск, 16-29 октября 2018 г. - Минск : Беларуская навука, 2018. - С. 44-48.
Аннотация: Методом «мгновенного испарения» получены тонкие пленки полупроводникового эвтектического композита GaSb-CrSb. Изучены микроструктура, рельеф поверхности, подтверждена равномерность нанесения покрытий, оценена толщина наносимого покрытия методом атомно-силовой микроскопии.
URI: https://rep.bsatu.by/handle/doc/12083
УДК: 544.022:546.03
Располагается в коллекциях:2018

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
topografiya-poverhnosti-submikronnyh-plenok-ehvtekticheskogo-kompozita-gasb-crsb.pdfС. 44-481,61 MBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.