ISSN 2522-4468

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://rep.bsatu.by/handle/doc/12100
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorСтанчик, Алена Викторовна-
dc.contributor.authorБарайшук, Сергей Михайлович-
dc.contributor.authorБашкиров, Семен Александрович-
dc.contributor.authorГременок, Валерий Феликсович-
dc.contributor.authorТиванов, Михаил Сергеевич-
dc.contributor.authorДергачева, Маргарита Борисовна-
dc.contributor.authorУразов, Кажмухан Аманкелдиевич-
dc.date.accessioned2021-02-24T13:19:23Z-
dc.date.available2021-02-24T13:19:23Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationИсследование тонких пленок Cu2ZnSnSe4 методом атомно-силовой микроскопии = Investigation of Cu2ZnSnSe4 thin films by atomic force microscopy / А. В. Станчик [и др.] // Весці Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі. Серыя фізіка-матэматычных навук. - 2016. - N 4. - С. 67-75.ru_RU
dc.identifier.urihttps://rep.bsatu.by/handle/doc/12100-
dc.description.abstractМетодом атомно-силовой микроскопии исследовано влияние типа подложки на структуру и шероховатость поверхности пленок Cu2ZnSnSe4, полученных методом селенизации металлических прекурсоров Cu-Zn-Sn на подложках из стекла с подслоем молибдена и молибденовой фольги (Мо/стекло, Мо-фольга). In comparison to the traditional use of glass substrates, the thin films onto metal substrates offer improved device cooling, economical large-scale roll-to-roll processing, and applicability in lightweight, as well as flexible products. However, unlike glass, metal foils tend to exhibit rough surfaces.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.subjectCu2ZnSnSe4ru_RU
dc.subjectтонкие пленкиru_RU
dc.subjectпрекурсорыru_RU
dc.subjectэлектрохимическое осаждениеru_RU
dc.subjectгибкие подложкиru_RU
dc.subjectатомно-силовая микроскопияru_RU
dc.subjectthin filmsru_RU
dc.subjectprecursorsru_RU
dc.subjectelectrochemical depositionru_RU
dc.subjectflexible substrateru_RU
dc.subjectatomic force microscopyru_RU
dc.titleИсследование тонких пленок Cu2ZnSnSe4 методом атомно-силовой микроскопииru_RU
dc.title.alternativeInvestigation of Cu2ZnSnSe4 thin films by atomic force microscopyru_RU
dc.typeArticleru_RU
dc.identifier.udc544.022:546.03-
dc.relation.bookВесці Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі. Серыя фізіка-матэматычных навукru_RU
Располагается в коллекциях:Статьи из научных журналов

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
issledovanie-tonkih-plenok-cu2znsnse4-metodom-atomno-silovoj-mikroskopii.pdfС. 67-751,02 MBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.