Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://rep.bsatu.by/handle/doc/12083Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Туровец, Антон Иванович | - |
| dc.contributor.author | Барайшук, Сергей Михайлович | - |
| dc.contributor.author | Ткаченко, Тамара Михайловна | - |
| dc.contributor.author | Рагимов, Рашад Низамеддин | - |
| dc.contributor.author | Мамедов, И. Х. | - |
| dc.contributor.author | Араслы, Д. Г. | - |
| dc.contributor.author | Халилова, А. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2021-02-22T13:17:17Z | - |
| dc.date.available | 2021-02-22T13:17:17Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | - |
| dc.identifier.citation | Топография поверхности субмикронных пленок эвтектического композита GaSb-CrSb / А. И. Туровец [и др.] // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов ХIII Международной конференции, Минск, 16-29 октября 2018 г. - Минск : Беларуская навука, 2018. - С. 44-48. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://rep.bsatu.by/handle/doc/12083 | - |
| dc.description.abstract | Методом «мгновенного испарения» получены тонкие пленки полупроводникового эвтектического композита GaSb-CrSb. Изучены микроструктура, рельеф поверхности, подтверждена равномерность нанесения покрытий, оценена толщина наносимого покрытия методом атомно-силовой микроскопии. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Беларуская навука | ru_RU |
| dc.subject | субмикронные пленки | ru_RU |
| dc.subject | эвтектика | ru_RU |
| dc.subject | эвтектические композиты | ru_RU |
| dc.subject | тонкие пленки | ru_RU |
| dc.subject | атомно-силовая микроскопия | ru_RU |
| dc.title | Топография поверхности субмикронных пленок эвтектического композита GaSb-CrSb | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| dc.identifier.udc | 544.022:546.03 | - |
| dc.relation.book | Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов ХIII Международной конференции, Минск, 16-29 октября 2018 г. | ru_RU |
| Располагается в коллекциях: | 2018 | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| topografiya-poverhnosti-submikronnyh-plenok-ehvtekticheskogo-kompozita-gasb-crsb.pdf | С. 44-48 | 1,61 MB | Adobe PDF |  Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.