Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://rep.bsatu.by/handle/doc/21637
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Барайшук, Сергей Михайлович | - |
dc.contributor.author | Михалкович, Олег Михайлович | - |
dc.contributor.author | Виертель, M. | - |
dc.contributor.author | Будзински, M. | - |
dc.date.accessioned | 2024-08-26T07:55:27Z | - |
dc.date.available | 2024-08-26T07:55:27Z | - |
dc.date.issued | 2024 | - |
dc.identifier.citation | Исследование структур покрытия на основе Mo/кремниевой подложки для тонкопленочных ИК-излучателей = Study of the structure of Mo-based coatings on silicon substrates for thin-film IR emitters / С. М. Барайшук [и др.] // Ученые записки физического факультета Московского университета. - Москва : МГУ им. М. В. Ломоносова, 2024. - N 1. - С. 2410601-1-2410601-7. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://rep.bsatu.by/handle/doc/21637 | - |
dc.description.abstract | В работе представлены исследования структур покрытия на основе Мо/кремниевой подложки полученных комбинацией ионно-ассистированного и магнетронного осаждения в различных режимах. Показано, что поверхность покрытия имеет структурный состав и проявляет радиационно-стимулированную диффузию молибдена в глубь подложки с концентрацией до 1 ат%, на глубину до 500 нм. The work studies the structure of a coating based on Mo/silicon substrate radiation using a combination of ion-assisted and magnetron deposition in various modes. It is shown that the surface of the coating has a structural composition and demonstrates radiation-stimulated diffusion of molybdenum into the depth of the substrate with a concentration of up to 1 at%, to a depth of up to 500 nm. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | МГУ им. М. В. Ломоносова | ru_RU |
dc.subject | тонкие пленки | ru_RU |
dc.subject | способы нанесения покрытий | ru_RU |
dc.subject | сенсоры | ru_RU |
dc.subject | структура поверхности | ru_RU |
dc.subject | резерфордовское обратное рассеяние | ru_RU |
dc.subject | электронная микроскопия | ru_RU |
dc.subject | твердость поверхностей | ru_RU |
dc.subject | смачиваемость поверхностей | ru_RU |
dc.subject | состав поверхности | ru_RU |
dc.subject | rutherford backscattering | ru_RU |
dc.subject | thin films | ru_RU |
dc.subject | coating mthoeds | ru_RU |
dc.subject | electron microscopy | ru_RU |
dc.subject | surface properties | ru_RU |
dc.subject | hardness | ru_RU |
dc.subject | wettability | ru_RU |
dc.subject | surface composition | ru_RU |
dc.subject | surface structure | ru_RU |
dc.subject | sensors | ru_RU |
dc.title | Исследование структур покрытия на основе Mo/кремниевой подложки для тонкопленочных ИК-излучателей | ru_RU |
dc.title.alternative | Study of the structure of Mo-based coatings on silicon substrates for thin-film IR emitters | ru_RU |
dc.identifier.udc | 539.4:538.9:539.87 | - |
dc.relation.book | Ученые записки физического факультета Московского университета | ru_RU |
Располагается в коллекциях: | Статьи из научных журналов |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
issledovanie-struktur-pokrytiya-na-osnove-mo-kremnievoj-podlozhki-dlya-tonkoplenochnyh-ik-izluchatelej.pdf | С. 2410601-1-2410601-7 | 625,26 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.