Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://rep.bsatu.by/handle/doc/12650
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Станчик, Алена Викторовна | - |
dc.contributor.author | Чумак, В. А. | - |
dc.contributor.author | Гременок, Валерий Феликсович | - |
dc.contributor.author | Шёлковая, Т. В. | - |
dc.contributor.author | Барайшук, Сергей Михайлович | - |
dc.date.accessioned | 2021-04-21T12:37:17Z | - |
dc.date.available | 2021-04-21T12:37:17Z | - |
dc.date.issued | 2020 | - |
dc.identifier.citation | Низкотемпературное исследование тонких пленок CZTSe / А. В. Станчик [и др.] // Современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур и наноматериалов : тезисы докладов XXVIII Российской конференции по электронной микроскопии, Черноголовка, 5–10 сентября 2020 г. В 3 т. - Черноголовка : ФНИЦ Кристаллография и фотоника РАН, 2020. - Т. 3. - С. 120–121. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://rep.bsatu.by/handle/doc/12650 | - |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | ФНИЦ Кристаллография и фотоника РАН | ru_RU |
dc.subject | тонкие пленки | ru_RU |
dc.subject | CZTSe | ru_RU |
dc.subject | низкотемпературные исследования | ru_RU |
dc.title | Низкотемпературное исследование тонких пленок CZTSe | ru_RU |
dc.type | Article | ru_RU |
dc.identifier.udc | 539.216.2 | - |
dc.relation.book | Современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур и наноматериалов : тезисы докладов XXVIII Российской конференции по электронной микроскопии, Черноголовка, 5–10 сентября 2020 г. В 3 т. | ru_RU |
Располагается в коллекциях: | 2020 |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Nizkotemperaturnoe issledovanie tonkih plenok CZTSe.pdf | С. 120–121 | 409,61 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.