ISSN 2522-4468

  1. Репозиторий БГАТУ!
  2. Материалы конференций, сборники научных трудов
  3. Материалы зарубежных конференций
  4. 2020
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://rep.bsatu.by/handle/doc/12127
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorРагимов, Рашад Низамеддин-
dc.contributor.authorМамедов, И. Х.-
dc.contributor.authorБарайшук, Сергей Михайлович-
dc.contributor.authorАраслы, Д. Г.-
dc.contributor.authorХалилова, А. А.-
dc.contributor.authorЯнушкевич, Казимир Иосифович-
dc.contributor.authorТкаченко, Тамара Михайловна-
dc.date.accessioned2021-02-25T10:56:51Z-
dc.date.available2021-02-25T10:56:51Z-
dc.date.issued2020-
dc.identifier.citationТонкие пленки эвтектических соединений III-Y групп элементов и 3d-металлов и их физико-химический анализ = Thin films of eutectic compounds III-Y groups of elements and 3d-metals and their physico-chemical analysis / Р. Н. Рагимов [и др.] // Актуальные вопросы прикладной физики и энергетики = Actual problems of applied physics and energetics : материалы II Международной научной конференции, Сумгаит, 12-13 ноября 2020 г. - Сумгаит : Сумгаитский государственный университет, 2020. - N 7. - С. 88-95.ru_RU
dc.identifier.urihttps://rep.bsatu.by/handle/doc/12127-
dc.description.abstractПолучены тонкие пленки эвтектических композитов GaSb-CrSb, InSb-FeSb и InSb-MnSb методом мгновенного испарения. Рентгеноструктурным и калориметрическим анализами и определением элементного состава подтверждена идентичность структур пленок и массивных образцов. АСМ исследованиями поверхности пленок определена фрактальность и удельная концентрация поверхностных элементов пленки композитов исследуемых эвтектик. Thin films of eutectic composites GaSb-CrSb, InSb-FeSb, and InSb-MnSb are obtained by the flash evaporation method. X-ray diffraction and calorimetric analyzes and determination of the elemental composition confirmed the identity of the structures of the films and bulk samples. AFM studies of the 95 surface of the films determined the fractality and specific concentration of the surface elements of the films of the studied eutectics.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherСумгаитский государственный университетru_RU
dc.subjectэвтектические композитыru_RU
dc.subjectтонкие пленки композитовru_RU
dc.subjectрентгенофазовый анализru_RU
dc.subjectэвтектические соединенияru_RU
dc.subjectфизико-химический анализru_RU
dc.subjectthin filmsru_RU
dc.subjecteutectic componentsru_RU
dc.subjectflash methodru_RU
dc.titleТонкие пленки эвтектических соединений III-Y групп элементов и 3d-металлов и их физико-химический анализru_RU
dc.title.alternativeThin films of eutectic compounds III-Y groups of elements and 3d-metals and their physico-chemical analysisru_RU
dc.typeArticleru_RU
dc.identifier.udc620.22-
dc.relation.bookАктуальные вопросы прикладной физики и энергетики : материалы конференций : II Международная научная конференция, Сумгаит, 12-13 ноября 2020 г.ru_RU
Располагается в коллекциях:2020

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
tonkie-plenki-ehvtekticheskih-soedinenij-iii-y-grupp-ehlementov-i-3d-metallov-i-ih-fiziko-himicheskij-analiz.pdfС. 88-951,02 MBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.