Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://rep.bsatu.by/handle/doc/12127| Название: | Тонкие пленки эвтектических соединений III-Y групп элементов и 3d-металлов и их физико-химический анализ |
| Другие названия: | Thin films of eutectic compounds III-Y groups of elements and 3d-metals and their physico-chemical analysis |
| Авторы: | Рагимов, Рашад Низамеддин Мамедов, И. Х. Барайшук, Сергей Михайлович Араслы, Д. Г. Халилова, А. А. Янушкевич, Казимир Иосифович Ткаченко, Тамара Михайловна |
| Ключевые слова: | эвтектические композиты тонкие пленки композитов рентгенофазовый анализ эвтектические соединения физико-химический анализ thin films eutectic components flash method |
| Дата публикации: | 2020 |
| Издательство: | Сумгаитский государственный университет |
| Библиографическое описание: | Тонкие пленки эвтектических соединений III-Y групп элементов и 3d-металлов и их физико-химический анализ = Thin films of eutectic compounds III-Y groups of elements and 3d-metals and their physico-chemical analysis / Р. Н. Рагимов [и др.] // Актуальные вопросы прикладной физики и энергетики = Actual problems of applied physics and energetics : материалы II Международной научной конференции, Сумгаит, 12-13 ноября 2020 г. - Сумгаит : Сумгаитский государственный университет, 2020. - N 7. - С. 88-95. |
| Аннотация: | Получены тонкие пленки эвтектических композитов GaSb-CrSb, InSb-FeSb и InSb-MnSb методом мгновенного испарения. Рентгеноструктурным и калориметрическим анализами и определением элементного состава подтверждена идентичность структур пленок и массивных образцов. АСМ исследованиями поверхности пленок определена фрактальность и удельная концентрация поверхностных элементов пленки композитов исследуемых эвтектик. Thin films of eutectic composites GaSb-CrSb, InSb-FeSb, and InSb-MnSb are obtained by the flash evaporation method. X-ray diffraction and calorimetric analyzes and determination of the elemental composition confirmed the identity of the structures of the films and bulk samples. AFM studies of the 95 surface of the films determined the fractality and specific concentration of the surface elements of the films of the studied eutectics. |
| URI: | https://rep.bsatu.by/handle/doc/12127 |
| УДК: | 620.22 |
| Располагается в коллекциях: | 2020 |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| tonkie-plenki-ehvtekticheskih-soedinenij-iii-y-grupp-ehlementov-i-3d-metallov-i-ih-fiziko-himicheskij-analiz.pdf | С. 88-95 | 1,02 MB | Adobe PDF |  Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.