Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://rep.bsatu.by/handle/doc/12100
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Станчик, Алена Викторовна | - |
dc.contributor.author | Барайшук, Сергей Михайлович | - |
dc.contributor.author | Башкиров, Семен Александрович | - |
dc.contributor.author | Гременок, Валерий Феликсович | - |
dc.contributor.author | Тиванов, Михаил Сергеевич | - |
dc.contributor.author | Дергачева, Маргарита Борисовна | - |
dc.contributor.author | Уразов, Кажмухан Аманкелдиевич | - |
dc.date.accessioned | 2021-02-24T13:19:23Z | - |
dc.date.available | 2021-02-24T13:19:23Z | - |
dc.date.issued | 2016 | - |
dc.identifier.citation | Исследование тонких пленок Cu2ZnSnSe4 методом атомно-силовой микроскопии = Investigation of Cu2ZnSnSe4 thin films by atomic force microscopy / А. В. Станчик [и др.] // Весці Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі. Серыя фізіка-матэматычных навук. - 2016. - N 4. - С. 67-75. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://rep.bsatu.by/handle/doc/12100 | - |
dc.description.abstract | Методом атомно-силовой микроскопии исследовано влияние типа подложки на структуру и шероховатость поверхности пленок Cu2ZnSnSe4, полученных методом селенизации металлических прекурсоров Cu-Zn-Sn на подложках из стекла с подслоем молибдена и молибденовой фольги (Мо/стекло, Мо-фольга). In comparison to the traditional use of glass substrates, the thin films onto metal substrates offer improved device cooling, economical large-scale roll-to-roll processing, and applicability in lightweight, as well as flexible products. However, unlike glass, metal foils tend to exhibit rough surfaces. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.subject | Cu2ZnSnSe4 | ru_RU |
dc.subject | тонкие пленки | ru_RU |
dc.subject | прекурсоры | ru_RU |
dc.subject | электрохимическое осаждение | ru_RU |
dc.subject | гибкие подложки | ru_RU |
dc.subject | атомно-силовая микроскопия | ru_RU |
dc.subject | thin films | ru_RU |
dc.subject | precursors | ru_RU |
dc.subject | electrochemical deposition | ru_RU |
dc.subject | flexible substrate | ru_RU |
dc.subject | atomic force microscopy | ru_RU |
dc.title | Исследование тонких пленок Cu2ZnSnSe4 методом атомно-силовой микроскопии | ru_RU |
dc.title.alternative | Investigation of Cu2ZnSnSe4 thin films by atomic force microscopy | ru_RU |
dc.type | Article | ru_RU |
dc.identifier.udc | 544.022:546.03 | - |
dc.relation.book | Весці Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі. Серыя фізіка-матэматычных навук | ru_RU |
Располагается в коллекциях: | Статьи из научных журналов |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
issledovanie-tonkih-plenok-cu2znsnse4-metodom-atomno-silovoj-mikroskopii.pdf | С. 67-75 | 1,02 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.