Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://rep.bsatu.by/handle/doc/12100| Название: | Исследование тонких пленок Cu2ZnSnSe4 методом атомно-силовой микроскопии |
| Другие названия: | Investigation of Cu2ZnSnSe4 thin films by atomic force microscopy |
| Авторы: | Станчик, Алена Викторовна Барайшук, Сергей Михайлович Башкиров, Семен Александрович Гременок, Валерий Феликсович Тиванов, Михаил Сергеевич Дергачева, Маргарита Борисовна Уразов, Кажмухан Аманкелдиевич |
| Ключевые слова: | Cu2ZnSnSe4 тонкие пленки прекурсоры электрохимическое осаждение гибкие подложки атомно-силовая микроскопия thin films precursors electrochemical deposition flexible substrate atomic force microscopy |
| Дата публикации: | 2016 |
| Библиографическое описание: | Исследование тонких пленок Cu2ZnSnSe4 методом атомно-силовой микроскопии = Investigation of Cu2ZnSnSe4 thin films by atomic force microscopy / А. В. Станчик [и др.] // Весці Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі. Серыя фізіка-матэматычных навук. - 2016. - N 4. - С. 67-75. |
| Аннотация: | Методом атомно-силовой микроскопии исследовано влияние типа подложки на структуру и шероховатость поверхности пленок Cu2ZnSnSe4, полученных методом селенизации металлических прекурсоров Cu-Zn-Sn на подложках из стекла с подслоем молибдена и молибденовой фольги (Мо/стекло, Мо-фольга). In comparison to the traditional use of glass substrates, the thin films onto metal substrates offer improved device cooling, economical large-scale roll-to-roll processing, and applicability in lightweight, as well as flexible products. However, unlike glass, metal foils tend to exhibit rough surfaces. |
| URI: | https://rep.bsatu.by/handle/doc/12100 |
| УДК: | 544.022:546.03 |
| Располагается в коллекциях: | Статьи из научных журналов |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| issledovanie-tonkih-plenok-cu2znsnse4-metodom-atomno-silovoj-mikroskopii.pdf | С. 67-75 | 1,02 MB | Adobe PDF |  Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.