Surface topography of the InSb-MnSb thin films

Abstract

In that report we observe a semiconductor eutectic composite InSb-MnSb thin films, prepared by the "flash evaporation" method. The atomic force microscopy and the scanning electron microscopy were employed for investigation microstructure and surface relief of the InSb-MnSb thin films. В этом отчете мы наблюдаем за тонкими пленками полупроводникового электического композита InSb-MnSb, полученными методом «мгновенного испарения». С помощью атомно-силовой микроскопии и сканирующей электронной микроскопии исследованы микроструктура и рельеф поверхности тонких пленок InSb-MnSb.